通过微探针连接到芯片并引出所需信号,用于电学特性测试
性能参数
放大倍数50X,100X,200X,500X
8个探针座
带屏蔽箱
应用范围
微小连接点信号引出,用于失效分析失效确认,FIB电路修改后电学特性确认等。
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