这些小活动你都参加了吗?快来围观一下吧!>>
电子产品世界 » 论坛首页 » 嵌入式开发 » STM32 » 探针测试

共1条 1/1 1 跳转至

探针测试

菜鸟
2019-08-07 15:48:29     打赏
探针测试平台probe

通过微探针连接到芯片并引出所需信号,用于电学特性测试 

性能参数 
放大倍数50X,100X,200X,500X 
8个探针座 
带屏蔽箱 


应用范围 
微小连接点信号引出,用于失效分析失效确认,FIB电路修改后电学特性确认等。





关键词: 探针     测试     失效分析     电性能测试     pad    

共1条 1/1 1 跳转至

回复

匿名不能发帖!请先 [ 登陆 注册 ]