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《LDMOS晶体管耐用性和可靠性》
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耐用性是射频应用领域中最重要的一项可靠性参数。恩智浦的第6代LDMOS晶体管几乎达到了无法损坏的地步。在名为《LDMOS晶体管耐用性和可靠性》的技术文章中，恩智浦的技术专家详细介绍了具体技术细节，查阅全文请点击链接并下载：http://www.nxp.com/acrobat_download2/literature/9397/Ruggedness8.pdf
关键词： LDMOS晶体管耐用性和可靠性
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