基于SRAM的现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array，FPGA)对于带电粒子的辐射特别敏感，尤其是近年来高密度集成芯片的出现，电路容量增大、操作电压降低使得它们在辐射环境下的可靠性降低。其中软故障是主要的故障，它是由粒子和PN结相互作用引起的一种暂态故障，软故障对在基于SRAM的FPGA上实现的电路具有特别严重的影响。由于三模冗余技术简单性以及高可靠性，它是一个被广泛使用的针对于FPGA上的单粒子翻转(Single-Event Upset，SEU)的容错技术。
三模冗余系统简称TMR(Triple Modular Redundancy)，是最常用的一种容错设计技术．三个模块同时执行相同的操作，以多数相同的输出作为表决系统的正确输出，通常称为三取二．三个模块中只要不同时出现两个相同的错误，就能掩蔽掉故障模块的错误，保证系统正确的输出．由于三个模块是互相独立的，两个模块同时出现错误是极小概率事件，故可以大大提高系统的可信性。
三模冗余可以由用户手动完成，也可以依靠工具完成。Xilinx推出了XIlInX tMrtool ，可以方便的实现三模冗余设计，并且可以方便的配置被冗余项，大大方便了用户。
 我要赚赏金打赏帖 |
|
|---|---|
| OK1126B-S开发板下以导航按键控制云台/机械臂姿态调整被打赏￥29元 | |
| 【树莓派5】便携热成像仪被打赏￥36元 | |
| 【树莓派5】环境监测仪被打赏￥35元 | |
| OK1126B-S开发板下多时段语音提示型电子时钟被打赏￥27元 | |
| OK1126B-S开发板下函数构建及步进电机驱动控制被打赏￥25元 | |
| 【S32K3XX】LPI2C 参数配置说明被打赏￥20元 | |
| OK1126B-S开发板的脚本编程及应用设计被打赏￥27元 | |
| 5v升压8.4v两节锂电池充电芯片，针对同步和异步的IC测试被打赏￥35元 | |
| 【S32K3XX】S32DS LPI2C 配置失败问题解决被打赏￥22元 | |
| 【S32K3XX】FLASH 的 DID 保护机制被打赏￥19元 | |
STM32
MCU
通讯及无线技术
物联网技术
电子DIY
板卡试用
基础知识
软件与操作系统
我爱生活
小e食堂
