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半导体器件实验室的核心是参数分析仪。简单易用的 Model 4200-SCS半导体特性分析系统能进行实验室级的直流和脉冲器件特性分析、实时绘制以及高精密和亚飞安分辨率的分析。4200-SCS 结合了 4200-CVU 的集成选件，现能让半导体测试用户灵活地创建集成了 DC、脉冲和 C-V 测试功能的方案，所有功能都囊括在节省空间的机壳中和集成的测试环境中。

为了简单、快速地测量二极管、晶体管、运放等有源器件和最新的半导体器件结构，吉时利的 2400 系列 SourceMeter^®仪器和 2600 系列数字源表在一台仪器中集成了精密电源、真电流源和 DMM 等多种测试功能。2600 系列还包含任意波形发生器、带测量功能的电压或电流脉冲发生器、电子负载和触发控制器。

当设计和试验低电阻、低功耗半导体器时，管理电源对于防止器件损坏而言至关重要。分析现代材料、半导体和纳米电子元件的电阻需要输出极低电流和测量极低电压的能力。吉时利的 delta 模式 (电流反转极性) 电阻测量功能结合了 6220 或 6221 的低电流 DC 源能力以及2182A 的低压测量精度，从而非常适合于低阻测量 (低至 10 nΩ) 适于分析导通电阻参数、互连和低功率半导体。

可免费下载的 LabTracer^® 2.0 软件允许用户快速、简单地配置和控制多达8条2600系列或2400系列源表的通道用于曲线追踪或器件特性分析。它具有简单的图形用户接口用于设置、控制、数据采集和绘制数字源表的 DUT 数据。当LabTracer与数字源表结合使用时，就能为实验室的用户提供强大、易用和经济的机箱方案。

3400 系列脉冲/码型发生器具有码型发生和全面控制脉冲幅度、上升时间、下降时间、宽度和占空比等各种脉冲参数能力，因而非常适合纳米电子研究人员、半导体器件研究人员、射频器件设计工程师和教育工作者等用户的需要。