【技术资料】Agilent Medalist i1000D在线测试系统-电子产品世界论坛

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【技术资料】Agilent Medalist i1000D在线测试系统

高工

2012-05-14 21:08:32 打赏

Agilent Medalist i1000D 现在做得更好。通过对以前仅有模拟ICT 状态的改进，现在，系统新的数字卡采用每一引脚都可编程特征，新的整套直观软件图形用户界面 (GUI) ，从而使编程和开发易如反掌。

凭借其新的数字能力，Medalist i1000D 现在可以在一个低价的长线测试夹具上执行基于数字PCF/ VCL库的测试，边界扫描和 I²C/SPI 串行编程。这就为正在寻找更好测试覆盖而不增加成本的客户提供一个极好的机会。

i1000D 的数字子系统承继业内领先Medalist i3070 ICT 的简洁性和强大能力，使客户只需点击几次鼠标，就能调整测试速度和驱动及接收电压。5989-6412CHCN.pdf

关键词：技术资料 Agilent Medalist i10

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