OpenVINOTM,给你看得见的未来!>>
电子产品世界 » 论坛首页 » 综合技术 » 基础知识 » latch,up 请教各位大虾,什么叫闭锁效应(latch-up)

共2条 1/1 1 跳转至

latch,up 请教各位大虾,什么叫闭锁效应(latch-up)

院士
2006-12-22 22:43:00    评分
latch,up 请教各位大虾,什么叫闭锁效应(latch-up)



关键词: latch     请教     各位     大虾     什么     闭锁     效应     l    

院士
2006-12-22 22:43:00    评分
2楼
问 如题! 1: latch-up   静电是一种看不见的破坏力,会对电子元器件产生影响。ESD 和相关的电压瞬变都会引起闩锁效应(latch-up)是半导体器件失效的主要原因之一。如果有一个强电场施加在器件结构中的氧化物薄膜上,则该氧化物薄膜就会因介质击穿而损坏。很细的金属化迹线会由于大电流而损坏,并会由于浪涌电流造成的过热而形成开路。这就是所谓的“闩锁效应”。在闩锁情况下,器件在电源与地之间形成短路,造成大电流、EOS(电过载)和器件损坏。

      CMOS 器件因闩锁效应特别容易损坏,因为电感会在器件的寄生电容中累积。另外,氧化物材料中任何原子一级的缺陷都会降低氧化物层的介电强度,使器件很容易因静电电压而失效。
2: 看我的Blog我写过专门的文章诠释。 3: to chunyangpardon me.
but what and where is your Blog? thanks. 4: 点chunyang的签名中的--【Chunyang工作室】 5: 谢谢 6: 多谢awey朋友的解答 7: 学习了 highway 发表于 2006-6-7 14:49 技术交流 ←返回版面    

latch-up

   静电是一种看不见的破坏力,会对电子元器件产生影响。ESD 和相关的电压瞬变都会引起闩锁效应(latch-up)是半导体器件失效的主要原因之一。如果有一个强电场施加在器件结构中的氧化物薄膜上,则该氧化物薄膜就会因介质击穿而损坏。很细的金属化迹线会由于大电流而损坏,并会由于浪涌电流造成的过热而形成开路。这就是所谓的“闩锁效应”。在闩锁情况下,器件在电源与地之间形成短路,造成大电流、EOS(电过载)和器件损坏。

      CMOS 器件因闩锁效应特别容易损坏,因为电感会在器件的寄生电容中累积。另外,氧化物材料中任何原子一级的缺陷都会降低氧化物层的介电强度,使器件很容易因静电电压而失效。


8: 楼上你学习个P啊。那个Highway就是个什么都不懂的白痴。

闩锁效应指的是触发CMOS电路的寄生可控硅。 9: 嘿嘿记得很久以前,去一个公司面试的时候接受书面测试,就有道题说:

该如何避免latch-up现象的发生?(大概是这个意思)

这个问题一直以来我都没有得到解答,今天总算是拨云见日了。。。


共2条 1/1 1 跳转至

回复

匿名不能发帖!请先 [ 登陆 注册 ]