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数字IC集成电路测试验证系统：美国Credence公司Electra MSR 100MHz

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概述：

100MHz量测速率的功能验证性设备，具有 Funtional Pattern产生、仿 真、测试， DC参数 量测等功能。

非常方便IC设计公司进行样片芯片验证性测试及分析

特性:

4M的向量存储深度/通道完整的功能Pattwen和DC参数测试系统

UNIX系统的操作软件，可视化友好界面

Shmoo Plot工具, 用于器件特性分析

可连接LABVIEW辅助性工具

直接连接到工作站服务器

系统规格：

时钟频率：100 Mhz

数据速率： 200 Mbits/Sec

1.5 ns的上升和下降时间（ ECL、CMOS 电路）

每个管脚的电压和负载可编程

每个管脚可编程边缘分辨率50 ps

7 bits per Channel for Simultaneous Real-time

Compare and Data Acquisition

时钟线形稳定，偏差 ≦±100 ps

系统偏差≦±1ns (ATS1)

每个管脚可选用直流精密测量单元

Window、Edge和Dual-Edge 采样

128个I/O管脚 (ATS1)

APMU：直流精密测量单元

2.1 Gb扩展图形存储器

PCI-GPIB 和PCI-VXI接口板

Sun Ultra 10 工作站

详情请点击：

http://www.cecc.hk/dianxingceshi/ims100.htm

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