如题。如有,不妨仍一些进来,谢谢!
最近在了解。
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找到有点关系的就列在下面:
元器件的寿命长短是如何测试的? http://forum.eepw.com.cn/thread/203124/1
在国际上,20世纪50年代是可靠性兴起和形成的年代。为解决军用电子设备和复杂导弹系统的可靠性问题,美国军方及工业界有组织地开展了可靠性研究。
20世纪60年代,美国武器系统研制全面贯彻可靠性大纲,这一阶段是可靠性工程全面发展的阶段。
从20世纪70年代开始,可靠性工程步入成熟阶段。其标志是建立起集中统一的可靠性管理机构,成立全国性的数据交换网,并制定了一套较完善的可靠性设计、试验及管理的方法及程序。
我国于20世纪50年代从电子产品环境试验开始,并从雷达、通信机、电子计算机等领域介入可靠性工程的研究,70年代末到80年代初,以狠抓了国家重点工程和电视机的可靠性为标志,形成我国可靠性工作第一个高潮。我厂正是在这个时期建厂,开始可靠性试验设备的研制。80年代末90年代初,以贯彻《军工产品质量管理条例》、《可靠性保证大纲》、《质量保证大纲》和GJB450为契机,掀起了我国可靠性工作的第二次高潮。
可靠性试验理论
众所周知,电子元器件的失效现象因工作阶段(加电应力时间)而异可分为“早期失效”、“随机失效”和“耗损失效”。批量很大的一批产品,未经任何老化措施即投入使用,会发现该批产品在开始工作时失效率很高,但很快就逐渐降低。失效率下降的这个阶段称为早期寿命期。在这个时期内发生的失效称为“早期失效”。其原因是由于元器件的制造缺陷所致,不合格元器件在 Te 时刻前失效后,元器件失效率就稳定下来,这段工作时期称为使用寿命期,这段时期发生的失效率称为“随机”、“偶发”、“突发”失效。因为这些失效是随机的,不可预测的。当产品工作到Tw时刻后,开始出现退化现象,失效率重新提高,这是因为元器件接近于“额定寿命”而出现老化和损耗所致。
对电子元器件进行老化筛选试验的目的正是剔除易发生“早期失效”的元器件,使批量元器件提前进入失效率稳定的工作期,从而提高整机可靠性。
对元器件生产厂来说,筛选是提高元器件可靠性的重要手段,经过筛选的元器件等级可以提高,可以应用到可靠性要求更高的场合;对整机单位来说,二次筛选是鉴别器件水平,提高整机可靠性的非常有效的手段。在航空航天系统就非常重视二次筛选手段的建立和实施,并要求具备分析能力。
随着可靠性实践的不断积累和理论研究的不断深入,不断有专家对传统的“浴盆曲线”提出疑问,甚至有美国专家提出“传统的“浴盆曲线”是可靠性研究的绊脚石”。国内从事可靠性研究的专家提出:传统的“浴盆曲线”源于对电子管的研究和统计,是否可以照搬到二、三极管上值得推敲。他们认为,二次筛选时间越长,器件可靠性越高,失效率越低。从MIL-STD-883标准的换版中也可以看出,元器件老炼时间在不断延长,从24h、48h到96h、196h,S级军品甚至对老炼时间要求达486h。
半导体分立器件功率老化试验要求:
在常温下,按规定试验条件进行稳态功率老化。
微电路高温功率老化的要求:
在规定的温度和时间内,按规定对微电路施加动态信号和功率负载进行动态老化试验。
元器件的寿命长短是如何测试的? http://forum.eepw.com.cn/thread/203124/1
电子产品可靠性测试 http://forum.eepw.com.cn/thread/203071/1
硬件测试主要的测试项目 http://forum.eepw.com.cn/thread/202268/1
电路的老化实验 http://forum.eepw.com.cn/thread/48898/1
如果是简单意义上的元器件老化的话一般指使其在高温下连续工作48小时以上 …… 电路的话一般指长期的连续工作吧, 另外就是加速热老化,考证产品长期工作稳定性,比如产品要求生命周期10年(25摄氏度),换算到75摄氏度的工作时间,例如20天(假设),即在75度情况下工作20天,可以认为在常温下工作10年,当然,具体时间还跟很多因素有关,例如活化能的选取等;与之相对应的还有一种方法,就是美军标推荐的温度交变,可以找相关资料看看的
可靠性试验理论 http://forum.eepw.com.cn/thread/140277/1
在国际上,20世纪50年代是可靠性兴起和形成的年代。为解决军用电子设备和复杂导弹系统的可靠性问题,美国军方及工业界有组织地开展了可靠性研究。
20世纪60年代,美国武器系统研制全面贯彻可靠性大纲,这一阶段是可靠性工程全面发展的阶段。
从20世纪70年代开始,可靠性工程步入成熟阶段。其标志是建立起集中统一的可靠性管理机构,成立全国性的数据交换网,并制定了一套较完善的可靠性设计、试验及管理的方法及程序。
我国于20世纪50年代从电子产品环境试验开始,并从雷达、通信机、电子计算机等领域介入可靠性工程的研究,70年代末到80年代初,以狠抓了国家重点工程和电视机的可靠性为标志,形成我国可靠性工作第一个高潮。我厂正是在这个时期建厂,开始可靠性试验设备的研制。80年代末90年代初,以贯彻《军工产品质量管理条例》、《可靠性保证大纲》、《质量保证大纲》和GJB450为契机,掀起了我国可靠性工作的第二次高潮。
可靠性试验理论
众所周知,电子元器件的失效现象因工作阶段(加电应力时间)而异可分为“早期失效”、“随机失效”和“耗损失效”。批量很大的一批产品,未经任何老化措施即投入使用,会发现该批产品在开始工作时失效率很高,但很快就逐渐降低。失效率下降的这个阶段称为早期寿命期。在这个时期内发生的失效称为“早期失效”。其原因是由于元器件的制造缺陷所致,不合格元器件在 Te 时刻前失效后,元器件失效率就稳定下来,这段工作时期称为使用寿命期,这段时期发生的失效率称为“随机”、“偶发”、“突发”失效。因为这些失效是随机的,不可预测的。当产品工作到Tw时刻后,开始出现退化现象,失效率重新提高,这是因为元器件接近于“额定寿命”而出现老化和损耗所致。
对电子元器件进行老化筛选试验的目的正是剔除易发生“早期失效”的元器件,使批量元器件提前进入失效率稳定的工作期,从而提高整机可靠性。
对元器件生产厂来说,筛选是提高元器件可靠性的重要手段,经过筛选的元器件等级可以提高,可以应用到可靠性要求更高的场合;对整机单位来说,二次筛选是鉴别器件水平,提高整机可靠性的非常有效的手段。在航空航天系统就非常重视二次筛选手段的建立和实施,并要求具备分析能力。
随着可靠性实践的不断积累和理论研究的不断深入,不断有专家对传统的“浴盆曲线”提出疑问,甚至有美国专家提出“传统的“浴盆曲线”是可靠性研究的绊脚石”。国内从事可靠性研究的专家提出:传统的“浴盆曲线”源于对电子管的研究和统计,是否可以照搬到二、三极管上值得推敲。他们认为,二次筛选时间越长,器件可靠性越高,失效率越低。从MIL-STD-883标准的换版中也可以看出,元器件老炼时间在不断延长,从24h、48h到96h、196h,S级军品甚至对老炼时间要求达486h。
半导体分立器件功率老化试验要求:
在常温下,按规定试验条件进行稳态功率老化。
微电路高温功率老化的要求:
在规定的温度和时间内,按规定对微电路施加动态信号和功率负载进行动态老化试验。
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