问：说到底直流特性分析方案主要就是测量哪些电参数？电流？
答：我们今天的讲座所涉及：
需要对器件电流密度 (J, mA/cm2) vs 电压(V), 亮度(B, cd,m2)vs电压,频谱vs频谱分布进行特性分析  利用4200-SCS、参数测试仪或源测量单元 (SMU)可以进行J vs. V 测量  B vs. V以及频谱分布测量需要分光光度计等 ，但仍需要源测量单元 (SMU) 或电源– 毕竟，您需要为器件供电  还需要对薄膜晶体管进行测试 (Vg-Ids, 漏电流, 击穿电压等)  对显示屏 “二极管”需要进行开路和短路测试  这些参数中的每个参数都可能影响显示质量  通常不必测试每
对AMLCD，主要测量如下参数
需要对晶体管进行特性分析 (Vg- Ids, 漏电流, 阈值电压等)  这些参数中的每个参数都可能影响显示质量  器件可能具有高电容。因此选择正确的源测量单元 (SMU)、光圈至关重要  通常不必测试每个像素 (由于许多仪器速度可能不够快，无法对高密度显示器进行测试)