共1条
1/1 1 跳转至页
TFT LCD与 OLED显示屏直流特性分析方案
直流参数测试或直流参数分析需求的原因是什么呢?
简单地讲，是因为主动矩阵显示器包括晶体管，这些晶体管的性能直接影响显示器的性能。 之所以进行测量，是因为它们与标准CMOS器件特性分析中测量有所不同。 不仅使用的晶体管需要进行特性分析，其材料也需要进行特性分析。不过，考虑到本次讨论的目的，我们重点关注主动器件的特性分析。
通常，需要测量的参数包括:
器件电流密度
晶体管与二极管的漏电流
晶体管阈值与亚阈值电压
晶体管击穿电压(对于某些器件，击穿电压可能高达数百伏)
二极管开路和短路测试
栅极和液晶电容
此外，在某些情况下，可能需要进行直流测量与光学测量，如频谱分布。
通常，当对AMOLED或AMLCD器件进行直流参数分析时，不是对单个像素进行测试。在任意合理时间内，测量的像素数量非常多。
对于所需的大部分直流测量，需要使用一个或两个源测量单元(SMU)。例如，为了测量OLED二极管的反向偏置漏电流，可以利用一个源测量单元(SMU)对二极管进行反向偏置，然后测量其电流。通常，在生产线上选择少量二极管样品进行测试。如果时间参数非常重要，还要进行简单的GO-NOGO测试。目的是检查其电流是否低于某个阈值，如1nA。不过，如果需要进行实验室级测试，那么由于这些漏电流可能低于pA，因此需要更长的时间。
磁滞是需要进行的另一个重要测试。磁滞是因电压扫描方向变化时导致的I-V曲线偏移。在正常操作过程中，由于向晶体管施加的更新脉冲的原因，也会出现磁滞。
在理想情况下，设计人员希望器件没有磁滞。磁滞测量非常棘手：在器件特性分析期间，有时候，由于施加的电压扫描速度，器件会表现出磁滞。因此，必须谨慎选择适当的延迟时间。
一个更重要的测量是器件传输特性。该测量将为设计人员提供有关TFT性能的大量信息。它需要两个源测量单元(SMU)，一个为栅极提供扫描电压，另一个为漏极提供偏置，并测量每个栅极电压步长的漏电流。
关键词： 显示屏 直流 特性 分析 方案 进行 测量
共1条
1/1 1 跳转至页
回复
| 有奖活动 | |
|---|---|
| 【EEPW电子工程师创研计划】技术变现通道已开启~ | |
| 发原创文章 【每月瓜分千元赏金 凭实力攒钱买好礼~】 | |
| 【EEPW在线】E起听工程师的声音！ | |
| “我踩过的那些坑”主题活动——第001期 | |
| 高校联络员开始招募啦！有惊喜！！ | |
| 【工程师专属福利】每天30秒，积分轻松拿！EEPW宠粉打卡计划启动！ | |
| 送您一块开发板，2025年“我要开发板活动”又开始了！ | |
| 打赏了！打赏了！打赏了！ | |
| 打赏帖 | |
|---|---|
| 电流检测模块MAX4080S被打赏10分 | |
| 【我踩过的那些坑】calloc和malloc错误使用导致跑飞问题排查被打赏50分 | |
| 多组DCTODC电源方案被打赏50分 | |
| 【我踩过的那些坑】STM32cubeMX软件的使用过程中的“坑”被打赏50分 | |
| 新手必看！C语言精华知识：表驱动法被打赏50分 | |
| 【我踩过的那些坑】杜绑线问题被打赏50分 | |
| 【我踩过的那些坑】STM32的硬件通讯调试过程的“坑”被打赏50分 | |
| 【我踩过的那些坑】晶振使用的问题被打赏100分 | |
| 【我踩过的那些坑】电感选型错误导致的处理器连接不上被打赏50分 | |
| 【我踩过的那些坑】工作那些年踩过的记忆深刻的坑被打赏10分 | |
STM32
MCU
通讯及无线技术
物联网技术
电子DIY
板卡试用
基础知识
软件与操作系统
我爱生活
小e食堂
