利用Multisim 10平台进行电子电路设计的可靠性研究，可以有效地解决传统分析方法难以对电子电路设计进行容差精确分析的技术问题。方法为统计取样法，其理论基础是概率论中的大数定理，基本原理是根据指定的分布规律在器件参数容差范围内随机地选取元器件及电路工作条件参数，再经大量计算，分析出电路性能的统计规律。通过实例，说明应用Multisim 10进行蒙特卡罗分析和最坏情况分析的方法和步骤，呈现出Multisim 10在电子电路设计的可靠性研究中出色的应用效果和广阔的应用前景。

基于Multisim 10的电子电路可靠性研究.doc