嗨,我在调试 mbist 时遇到了一个问题。详细背景如下:
1。我根据芯片手册将不同的 SRAM 分为 4 组。
2.gang 0 是 CPU0/CPU1 DMEM,gang1 是 CPU0/CPU1 DMEM1,gang2 是 CPU0/CPU1 PMEM,gang3 是 CPU0/CPU1 Dtag 和 CPU0/CPU1 Ptag
3。mbist 的测试逻辑符合芯片手册的要求。但是,当我通过 3 次测试注释掉了 gang1 并且只运行了 gang0
测试时,出现了一个问题。通过 WinIdea 调试发现,在 gang0 的 mbist 测试完成并启用 dcache 之后,mcu
在恢复操作系统中断时进入了陷阱。但是,当我禁用 dcache 时,mcu 是正常的。
因此,我很困惑为什么 diable dcache 能让 mcu 恢复正常。是因为 Dtag 的 mbist 没有经过测试吗?还是因为尽管启用了 dcache,但 dcache 无法正常工作?
共1条
1/1 1 跳转至页
为什么diabledcache能让mcu恢复正常?
关键词: diable dcache mcu
共1条
1/1 1 跳转至页
回复
我要赚赏金打赏帖 |
|
|---|---|
| PCF8574功能模块及其使用被打赏¥20元 | |
| 传感器LSM6DSO及LIS3MDL的功能检测被打赏¥18元 | |
| LPS25HB气压传感器及其检测被打赏¥18元 | |
| HTS221温湿度传感器及其检测被打赏¥18元 | |
| 【S32K3XX】HSE FW 版本更新被打赏¥21元 | |
| 基于ArduinoUNO开发板的AT24C02读写测试被打赏¥16元 | |
| TCS3472S传感器及其色彩检测被打赏¥19元 | |
| 【S32DS】S32K3 RTD7.0.1 HSE 组件配置报错问题解决被打赏¥27元 | |
| 【S32K3XX】MCME 启动 CORE1被打赏¥23元 | |
| AG32VH407下温度大气压传感器及其检测被打赏¥20元 | |
我要赚赏金
