我正在查看 Aurix pFlash 内存部分是如何在微控制器级别上创建 ECC 写入错误的，以及他们是如何通过故障注入技术使用它产生多位错误的
通常 ecc 错误是使用高电压和其他方法产生的，但为了测试 ecc 错误，我们使用一种称为故障注入的方法。
1) 我正在使用 Trace 32，在这里需要一些指导，比如如何通过 Trace32 创建 ECC 错误，以及这样做的测试程序是什么。
2) 我想知道要监控的确切寄存器是哪些，以确认 pFlash 在 PFI2 中正确生成了特定的 ECC 错误
共1条
1/1 1 跳转至页
AurixpFlash内存部分是如何在微控制器级别上创建ECC写入错误的？
共1条
1/1 1 跳转至页
回复
 我要赚赏金打赏帖 |
|
|---|---|
| 基于ArduinoUNO开发板的AT24C02读写测试被打赏￥16元 | |
| TCS3472S传感器及其色彩检测被打赏￥19元 | |
| 【S32DS】S32K3 RTD7.0.1 HSE 组件配置报错问题解决被打赏￥27元 | |
| 【S32K3XX】MCME 启动 CORE1被打赏￥23元 | |
| AG32VH407下温度大气压传感器及其检测被打赏￥20元 | |
| AG32VH407下光照强度传感器BH1750及其检测被打赏￥22元 | |
| AT32VH407下使用温湿度传感器DHT22进行检测被打赏￥20元 | |
| DIY一个婴儿澡盆温度计被打赏￥34元 | |
| 【FreeRtos】FreeRtos+MPU region 配置规则被打赏￥23元 | |
| 【分享开发笔记，赚取电动螺丝刀】三分钟快速上手驱动墨水屏(ArduinoIDE)被打赏￥28元 | |
STM32
MCU
通讯及无线技术
物联网技术
电子DIY
板卡试用
基础知识
软件与操作系统
我爱生活
小e食堂
