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我正在查看 Aurix pFlash 内存部分是如何在微控制器级别上创建 ECC 写入错误的，以及他们是如何通过故障注入技术使用它产生多位错误的
通常 ecc 错误是使用高电压和其他方法产生的，但为了测试 ecc 错误，我们使用一种称为故障注入的方法。
1) 我正在使用 Trace 32，在这里需要一些指导，比如如何通过 Trace32 创建 ECC 错误，以及这样做的测试程序是什么。
2) 我想知道要监控的确切寄存器是哪些，以确认 pFlash 在 PFI2 中正确生成了特定的 ECC 错误