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可靠性工程背景介绍
在国际上，20世纪50年代是可靠性兴起和形成的年代。为解决军用电子设备和复杂导弹系统的可靠性问题，美国军方及工业界有组织地开展了可靠性研究。
20世纪60年代，美国武器系统研制全面贯彻可靠性大纲，这一阶段是可靠性工程全面发展的阶段。
从20世纪70年代开始，可靠性工程步入成熟阶段。其标志是建立起集中统一的可靠性管理机构，成立全国性的数据交换网，并制定了一套较完善的可靠性设计、试验及管理的方法及程序。
我国于20世纪50年代从电子产品环境试验开始，并从雷达、通信机、电子计算机等领域介入可靠性工程的研究，70年代末到80年代初，以狠抓了国家重点工程和电视机的可靠性为标志，形成我国可靠性工作第一个高潮。我厂正是在这个时期建厂，开始可靠性试验设备的研制。80年代末90年代初，以贯彻《军工产品质量管理条例》、《可靠性保证大纲》、《质量保证大纲》和GJB450为契机，掀起了我国可靠性工作的第二次高潮。
可靠性试验理论
众所周知，电子元器件的失效现象因工作阶段(加电应力时间)而异可分为“早期失效”、“随机失效”和“耗损失效”。批量很大的一批产品，未经任何老化措施即投入使用，会发现该批产品在开始工作时失效率很高，但很快就逐渐降低。失效率下降的这个阶段称为早期寿命期。在这个时期内发生的失效称为“早期失效”。其原因是由于元器件的制造缺陷所致，不合格元器件在 Te 时刻前失效后，元器件失效率就稳定下来，这段工作时期称为使用寿命期，这段时期发生的失效率称为“随机”、“偶发”、“突发”失效。因为这些失效是随机的，不可预测的。当产品工作到Tw时刻后，开始出现退化现象，失效率重新提高，这是因为元器件接近于“额定寿命”而出现老化和损耗所致。
对电子元器件进行老化筛选试验的目的正是剔除易发生“早期失效”的元器件，使批量元器件提前进入失效率稳定的工作期，从而提高整机可靠性。
对元器件生产厂来说，筛选是提高元器件可靠性的重要手段，经过筛选的元器件等级可以提高，可以应用到可靠性要求更高的场合；对整机单位来说，二次筛选是鉴别器件水平，提高整机可靠性的非常有效的手段。在航空航天系统就非常重视二次筛选手段的建立和实施，并要求具备分析能力。
随着可靠性实践的不断积累和理论研究的不断深入，不断有专家对传统的“浴盆曲线”提出疑问，甚至有美国专家提出“传统的“浴盆曲线”是可靠性研究的绊脚石”。国内从事可靠性研究的专家提出：传统的“浴盆曲线”源于对电子管的研究和统计，是否可以照搬到二、三极管上值得推敲。他们认为，二次筛选时间越长，器件可靠性越高，失效率越低。从MIL－STD-883标准的换版中也可以看出，元器件老炼时间在不断延长，从24h、48h到96h、196h，S级军品甚至对老炼时间要求达486h。

半导体分立器件功率老化试验要求：
在常温下，按规定试验条件进行稳态功率老化。

微电路高温功率老化的要求:
在规定的温度和时间内，按规定对微电路施加动态信号和功率负载进行动态老化试验。