| 软件缺陷的生命周期指的是一个软件缺陷被发现、报告到这个缺陷被修复、验证直至最后关闭的完整过程。 简单的软件缺陷生命周期: 1、发现——打开:测试人员找到软件缺陷并将软件缺陷提交给开发人员; 2、打开——修复:开发人员再现、修复缺陷,然后提交测试人员去验证; 3、修复——关闭:测试人员验证修复过的软件,关闭已不存在的缺陷。 但是这是一种理想的状态,在实际的工作中是很难有这样的顺利的,需要考虑的各种情况都还是非常多的。 复杂的软件缺陷生命周期: 1、新建一个软件缺陷,这个软件缺陷是(open)状态,进行bug审查,不是代码问题,就是设计需要修改; 2、新建一个软件缺陷,这个软件缺陷是(open)状态,进行bug审查,以后修改的,就可以延期; 3、新建一个软件缺陷,这个软件缺陷是(open)状态,进行bug审查,实际没有这个bug,可以将其关闭; 4、新建一个软件缺陷,这个软件缺陷是(open)状态,看是否 清楚可重现,如果不能重现,就是缺少信息,需要返回到(open)状态;如果能够重现,就进行修正,修正后关闭,进行回归测试。 软件缺陷生命周期中的不同阶段是测试人员、开发人员和管理人员一起参与、协同测试的过程。软件缺陷一旦发现,便进入测试人员、开发人员、管理人员严格监控之中,直至软件缺陷的生命周期终结,这样可保证在较短的时间内高效率的关闭所有缺陷,缩短软件测试的进程,提高软件质量,同时减少开发和维护成本。 |
共2条
1/1 1 跳转至页
软件缺陷的生命周期
关键词: 软件 缺陷 生命 周期 人员
共2条
1/1 1 跳转至页
回复
我要赚赏金打赏帖 |
|
|---|---|
| 【S32DS】S32K3 RTD7.0.1 HSE 组件配置报错问题解决被打赏¥27元 | |
| 【S32K3XX】MCME 启动 CORE1被打赏¥23元 | |
| AG32VH407下温度大气压传感器及其检测被打赏¥20元 | |
| AG32VH407下光照强度传感器BH1750及其检测被打赏¥22元 | |
| AT32VH407下使用温湿度传感器DHT22进行检测被打赏¥20元 | |
| DIY一个婴儿澡盆温度计被打赏¥34元 | |
| 【FreeRtos】FreeRtos+MPU region 配置规则被打赏¥23元 | |
| 【分享开发笔记,赚取电动螺丝刀】三分钟快速上手驱动墨水屏(ArduinoIDE)被打赏¥28元 | |
| 【S32K3XX】LIN 通讯模块使用被打赏¥31元 | |
| 【FreeRtos】FreeRtos + MPU模块的配置使用被打赏¥32元 | |
我要赚赏金
