单次事件的颠覆很可能形响到大多数的数宇电子电路。赛灵思很严肃地对待SEU问题，设计设备时充分考虑了如何降低对这些辐射引起的事件的敏感性。因为赛灵思也意识到SEU在商用和实用限制内是不可避免的，因此该公司在Virtex.-5和Spartan0-3A 9伸系列产品中提供了内置的SEU检测功能，以简化并改咎系统设计。
Ken Chapman和Les Jones 编写的一条应用笔记中讨论了处理SEU的策略以及典型计算．重点讨论了解决这些低概率事件的可靠性。附带的参考设计经过优化后可用于Virtex-5 FPGAML505评估平台，但也而已移植到其它硬件中。您可以在任何Virtex-5 FPGA设计中使用其SEU控制器宏．实现SEU检侧哥刚多正计划。
Virtex-5 设备的SEU策略.pdf
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