【应用指南】改善查看周期：调试DDR和DD2系统中的间歇性存储器问题-电子产品世界论坛

共1条 1/1 1 跳转至页

【应用指南】改善查看周期：调试DDR和DD2系统中的间歇性存储器问题

高工

2012-04-20 08:08:14 打赏

本应用指南概括介绍了调试方法，介绍了多种工具和技术。在DDR和DDR2系统( 包括全面缓冲的DIMM 的SDRAM 一侧) 中调试存储器问题时，您可以利用这些工具和技术，不但节约时间，而且能帮助您更好地了解系统性能。5989-4991CHCN改善查看周期调试DDR和DD2系统中的间歇 .pdf

关键词：应用指南改善查看周期调试系统中的间

共1条 1/1 1 跳转至页

打赏帖
【我要开发板】4.传感器移植被打赏50分
STM32WBA55ADC采集电池电压任务2被打赏1分
【STM32WBA55CG开发板评测】8、蓝牙键盘被打赏50分
【STM32WBA55CG开发板】基于BLE双色温台灯并通过按键上报电池电压及电流-成果贴被打赏100分
【换取手持数字示波器】GD32VF103（RISC-V）RT-thread函数栈回溯工具使用被打赏33分
【Mini-F5265-OB】硬件SPI驱动ST7735OLED屏被打赏35分
【换取手持数字示波器】CAN基础通信-Loopback模式被打赏29分
【换取手持数字示波器】IIC读取总线设备地址被打赏25分
【换取手持数字示波器】GD32VF103（RISC-V）RT-thread内核移植代码解析被打赏29分
【换取手持数字示波器】GD32VF103 CoreMark跑分试验被打赏18分