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【白皮书】采用Stratix V 管芯仪表克服高速 I/O 验证难题

bobgeng
高工
2012-04-21 08:33:11     打赏
【白皮书】采用Stratix V 管芯仪表克服高速 I/O 验证难题
本文档讨论使用Altera 28-nm Stratix ® V 器件的管芯仪表功能(ODI) 来验证和调试高速I/O。依据摩尔定律，I/O 技术在速度和数据速率上每两到三年就会翻倍。随着I/O 速度和数据速率的提高，出现了新的验证和测试难题。本白皮书阐述验证高速链路所面临的难题，以及Altera 28-nm Stratix V ODI 技术是怎样克服这些难题的，还将介绍ODI 应用。详见wp-01152-on-die-instrumentation_CN.pdf。
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关键词： 白皮书     采用     Stratix     管芯     仪表     克服     高    

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