本文回答了“我是否需要真实差分信号，测量我的非线性放大器”的问题。在测量许多有源差分电路的非线性特点时，测量单端非线性响应、然后再计算差分响应已经足够了。本文考察了为什么使用单端技术仍能正确测量非线性差分电路，讨论了测试差分电路时的拓扑考虑因素，提供了试验和模拟结果，加强了这些概念。5989-4518CHCN.pdf
 我要赚赏金打赏帖 |
|
|---|---|
| OK1126B-S开发板下函数构建及步进电机驱动控制被打赏￥25元 | |
| 【S32K3XX】LPI2C 参数配置说明被打赏￥20元 | |
| OK1126B-S开发板的脚本编程及应用设计被打赏￥27元 | |
| 5v升压8.4v两节锂电池充电芯片，针对同步和异步的IC测试被打赏￥35元 | |
| 【S32K3XX】S32DS LPI2C 配置失败问题解决被打赏￥22元 | |
| 【S32K3XX】FLASH 的 DID 保护机制被打赏￥19元 | |
| OK1126B-S开发板串口通信及其使用被打赏￥18元 | |
| 【S32K3XX】多核 CORE ID 获取被打赏￥18元 | |
| OK1126B-S开发板的GPIO资源及其使用被打赏￥20元 | |
| 【分享开发笔记，赚取电动螺丝刀】三分钟快速上手驱动屏幕(Arduino IDE环境)被打赏￥23元 | |
STM32
MCU
通讯及无线技术
物联网技术
电子DIY
板卡试用
基础知识
软件与操作系统
我爱生活
小e食堂
