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轻松支持当今具有挑战性的应用：

n 功率半导体、HBLED和光器件特性分析和测试

n GaN、SIC及其他复合材料和器件的特性分析

n 半导体结温特性分析

n 高速、高精度数字化

n 电迁移研究

n 大电流、大功率器件测试

1. 每种测量模式下使用两个A/D转换器(一个用于电流，另一个用于电压)，可同时运行用于准确源读回，不会影响测试效率。

当用于一个系统时，全部2600A系列的通道以500ns同步，实现真正的SMU-per-pin测试，主机不存在功率或通道限制。

2. 将热效应降至最小，准确特性分析半导体结温效应

n 准确源出和测量短至100μs的脉冲，并且脉冲从100μs至直流、上升时间从25μs、占空比从1%至100%可编程。

n 捕获快速变化现象，速率达1,000,000读数/秒，连续1μs/点采样。

3. 提高试验可靠性和可重复性

精密定时和严格的通道同步对当今的测试要求至关重要。2651A型具有一款高性能触发型号，精确控制每一源测量步骤的定时。它还严格同步通道之间和/或其他2600A系列仪器之间的工作，采用TSP-Link，硬件速度<500ns。更重要的是，SMU-per-pin测试防止测量和负载信号失真。这些功能可帮助您提高吞吐量，降低可能损坏DUT的影响，并获得高准确度和可复现的测量结果。

4. 快速、简便地执行I-V测试

无需编程或安装，TSP® Express软件工具即执行常见的I-V测试。嵌入式测试脚本处理器(TSP^®)使用户能够创建仪器可直接运行的脚本，进一步提高测试自动化。

该TSP Express测量屏幕所示为利用两台2651A单元并联获得100A脉冲能力。能够以图形或表格格式查看结果，然后导出至.csv格式文件，可用于电子表格软件。

从基本测试到高级测试，利用TSP Express都能快速、简便的配置。