关键词: iInitial accuracy, digital pots, potentiometer, resistance, voltage dividers, ratiometric, ratio steps, LSB, taps error, reference decoupling, Earth Ground, high push-button interface, common space shuttle, local potential
摘要:电气过应力( EOS )和静电放电(ESD)是集成电路的危险。愚蠢的人类借口,聘请安慰剂,并希望物理定律并不适用于他们。这篇文章揭露了这种想法的愚蠢,并提出切实可行的方法来保护电子系统。
