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（2）TD-LTE系统在上行链路中采用混合自动重传请求（HARQ）技术，来保证系统性能。在TD-LTE多天线基站研发测试中，要求测试仪器必须具备信号产生，信道模拟以及实时响应的功能，从而模拟真实环境下系统实时吞吐率。该项测试是LTE基站测试规范中第8章系统性能测试的重要环节，同时也一直是研发设计和测试人员关注的焦点和难点。安捷伦利用最新X系列信号发生器N5182B/N5172B，能够产生标准规定所需的上行测试信号。并且可以根据基站发出的HARQ反馈信号实时调整编码方式，实现符合标准的重传机制，从而实现系统性能测试的规范要求。对于2天线的LTE基站，可采用安捷伦X系列信号发生器N5182B/N5172B/N5182A配合N5106APXB基带信道模拟器，作为信号产生和信道模拟的整体解决方案；对于8天线的LTE基站，可采用安捷伦X系列信号发生器N5182B/N5172B与任意8通道射频信道仿真仪联合使用实现LTE eNB闭环测试功能。

（3）在3GPP Release 10中定义了载波聚合技术，使得通信系统可以利用相邻或离散的带宽载波组合成为更宽的频带资源，将高层的数据流分别映射到各个载波进行收发，从而充分利用已经十分拥挤的频谱资源，提高系统容量，将峰值下行链路数据速率提升到1Gbps以上。连续和非连续频段的载波聚合已经被确认为是向LTE-Advanced演进过程中最重要的方法之一，同时也被认识到将给用户设备和eNodeB的设计带来艰巨的挑战。特别是针对非连续的带间载波聚合，给测试带来了巨大挑战。而往往带间载波聚合是在单一频段内缺乏足够宽的连续频谱，无法实现 IMT-Advanced 峰值数据速率时，最切实可行的 LTE-Advanced 部署方案。 由于带间聚合中的频段间隔比市场上销售的任何信号分析仪的中频带宽都要宽，所以最主要的测试挑战是同时对多个分量载波进行解调。利用安捷伦160MHz分析带宽的N9030A，配合89601B矢量信号分析软件，就可以很轻松的解决LTE-Advanced中的载波聚合的测量问题，无论是带内聚合，还是带间聚合，都可以轻松实现。此外，8通道信号分析仪N7109A也可以轻松完成带间载波聚合的测量。