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以前做FPGA的时候，没有关心过这个问题，上升沿和下降沿，一直混用。但是昨天后端部门的Lint检查和综合检查都指出了这个问题，要求把设计中的所有时钟沿都统一为上升沿抽样。这样做的目的，据说是为了提高scan chain的覆盖率。因为没有经验，想在这里请教一下大家：

- 混用上升下降沿会对scan chain造成什么样的影响，能否具体解释一下;

- 如果代码在逻辑上必须用下降沿采样，怎样才能满足后端的要求(用上升沿采样)，有无变通方法;

我的代码

我在上面提到了上升沿和下降沿混用，其实是表述不正确。不是混用，而是在代码中有些寄存器用posedge，有些则用negedge，对同一个寄存器同时使用两个边沿的情况没有。，我的代码是这样的情况，比如

always @ (posedge i_clk or negedge i_rst_n) begin

.... // reg 1

end

always @ (negedge i_clk or negedge i_rst_n) begin

.... // reg 2

end

对于这样的情况，后端部门也建议尽量避免，也就是说所有寄存器全都采用上升沿，要怎么处理呢?

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用下降沿采样的话

dft_drc会认为该寄存器有violation

因此不把他放到chain里边

所以覆盖率会降低