EEPW论坛

各位亲爱的工程师伙伴们：

随着5G 时代的到来，大数据、人工智能、自动驾驶等新技术应用的启动，支撑这些新技术的底层正是高速数据通讯技术和标准，包含从产品内部的互连总线PCIE到背板传输和接口采用的高速Ethernet总线，还有HDMI、MIPI、DDR等等。随着数据传输速率的提高，高速互连时的兼容性问题越来越受到重视，对于如何在进行高速数据传输时还能够保证和传统设备一样的高可靠性、高稳定性，以及信号传输出问题时如何进行原因的定位，如何对高速传输链路进行分析并通过各种信号处理手段提高信号的传输距离等都成为了采用高速数字接口时需要解决的关键问题。 

由北京电子学会材料电磁特性测量专委会主办，北京方用科技和芯合汇承办，IC Park协办，特邀GRL上海实验室数字接口一致性认证测试专家，于8月16日于北京召开数字接口一致性认证测试专题研讨会。

日程安排

13:00-13:30   来宾签到

13:30-13:35   IC Park领导致欢迎词

13:35-13:40   北京电子学会领导致欢迎词

13:40-14:00   数字接口一致性认证测试综述

14:00-14:30   HDMI 认证测试规范介绍

14:30-15:00   DP2.0&HDMI2.1热点分享

15:00-15:15   演示与茶歇

15:15-15:40   高速数字接口物理层测试技术介绍

15:40-16:00   VESA DisplayPort认证规范介绍

16:00-16:20   VESA DisplayHDR认证规范介绍

16:20-16:40   高速数字接口电磁兼容性设计技术 

16:40-17:00   来宾与演讲嘉宾自由交流

时间&地点

时间：2019年8月16日(周五) 13:00-17:00

地点：北京海淀区北清路与永嘉南路交叉口西南集成电路设计园2 号楼D座3层IC会议中心

报名及联系方式

叶伟斌 13311016718(电话&微信)

何   宏 13359231265(电话&微信)

组织机构

主办单位

承办单位

协办单位

活动报名：https://www.huodongxing.com/event/2503773824300