FIB可在IC芯片特定位置作截面断层,以便观测材料的截面结构与材质,定点分析芯片结构缺陷，这样可以帮助IC设计人员对IC设计性能进行深入分析。FIB在截面分析上的应用不仅仅是针对IC芯片，还可以是其它样品，如图：1）芯片封装结合处观察缝隙2）材料层次： 3）玻璃纤维截面：4）PCB金手指观察金属层：
| 有奖活动 | |
|---|---|
| 【有奖活动】分享技术经验，兑换京东卡 | |
| 话不多说，快进群！ | |
| 请大声喊出：我要开发板！ | |
| 【有奖活动】EEPW网站征稿正在进行时，欢迎踊跃投稿啦 | |
| 奖！发布技术笔记，技术评测贴换取您心仪的礼品 | |
| 打赏了！打赏了！打赏了！ | |
| 打赏帖 | |
|---|---|
| 与电子爱好者谈读图四被打赏50分 | |
| 与电子爱好者谈读图二被打赏50分 | |
| 【FRDM-MCXN947评测】Core1适配运行FreeRtos被打赏50分 | |
| 【FRDM-MCXN947评测】双核调试被打赏50分 | |
| 【CPKCORRA8D1B评测】---移植CoreMark被打赏50分 | |
| 【CPKCORRA8D1B评测】---打开硬件定时器被打赏50分 | |
| 【FRDM-MCXA156评测】4、CAN loopback模式测试被打赏50分 | |
| 【CPKcorRA8D1评测】--搭建初始环境被打赏50分 | |
| 【FRDM-MCXA156评测】3、使用FlexIO模拟UART被打赏50分 | |
| 【FRDM-MCXA156评测】2、rt-thread MCXA156 BSP制作被打赏50分 | |
STM32
MCU
通讯及无线技术
物联网技术
电子DIY
板卡试用
基础知识
软件与操作系统
我爱生活
小e食堂