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1.测试目的

评估晶体振荡器驱动电路的驱动能力，保证晶体振荡器稳定振荡。

2. 所需设备

可调稳压电源、示波器、可调电阻、万用表

3.测试步骤说明

（1） 参数计算

a）为保证晶体振荡器稳定振荡，晶体振荡器的负性阻抗（-R）至少为晶体振荡器阻抗的5倍以上，即|-R| 》 5RL

b）RL的计算：

RL=R1*（1+C0/CL）2

其中，R1：晶体振荡器的等效串联阻抗（Effective SeriesResistance），可在晶体振荡器的Datasheet中查询；

C0：晶体振荡器的寄生电容（Shunt Capacitance）， 可在晶体振荡器的Datasheet中查询；

CL：晶体振荡器的负载电容，

CL=CT+CS

CT=（Cg*Cd）/（Cg+Cd）

CS：线路上分布的杂散电容 ，一般的典型值为5pf；

Cg和Cd如图1，一般在电路设计中取相同的值

图1 RL的计算

（2） 负性阻抗的测试

测试电路如下：

图2 负性阻抗的测试

a）串联可调电阻R到晶体振荡器的输出端（MCU芯片的EXTAL）；

b）使用可调稳压电源按照所测电路板的供电需求给电路板供电，将示波器探头接在可调电阻2脚（如图2，靠近MCU芯片的EXTAL端）测试晶体振荡器的振荡波形，调整可调电阻R，使晶体振荡器由起振至停止振荡；

c）当电路由起振至停止振荡时，关闭可调稳压电源的输出，用万用表测量R值；

d）计算晶体振荡器的负性阻抗|-R| = R+RL，RL为晶体振荡器的的负载阻抗值。

4. 测试合格准则

晶体振荡器的负性阻抗（-R）至少为晶体振荡器阻抗的5倍以上，即|-R| 》 5RL

5. 注意事项

（1）该项测试中，可先行计算晶体振荡器的负载阻抗RL，然后根据5倍RL的值选择一个阻值合适的可调电阻器；

（2）在测试的过程中，可能会出现可调电阻R已经调到最大，并且此时R》》5RL，但晶体振荡器仍然没有停止振荡，此时认为晶体振荡器是可以稳定振荡的，若此时R值大约为n倍的RL，测试记录中可写|-R| 》（n+1） RL。