导通测试是线束中必须相连接的点是否准确的连接。通常人们用的方法是线路的一端,施以一定额的电流,并在另一端探查是否有相对应的电流流出,而获知该路径是否接通,再进一步量测两端的电压差,计算该导线的电阻值,此要对线束逐点进行点对点的测试。
在多线束导通测试的过程中,如果有错误发生,不论是断线、短路或接线错误,通常最大的困难就是找到真正的错误,是断线未接,还是连接错误,还是线间短路等等。传统上简单的线束测试器中,通常是一对一的导通测试及一对一的绝缘测试。这种方法对于复杂的线束拓扑结构,经常无法检测涵盖所有错误,即使发现有错误,仍不能很快的掌握实际的状况。
线束的正常连接及常见失效如下图所示:
线束导通测试示意图
ATX-3000线束测试仪导通测试原理:给需要测试的线束施加一定电流,测量线缆端点处的电压值和电流值,由测试仪内部对测量结果使用欧姆定律进行换算,得出准确的电阻值。用此电阻值与用户设定的电阻值进行比较,判定是否有质量隐患。导通测试原理图如图:
线束测试仪导通测试原理图
该导通测试功能通过快速自学习保存一个正确标准,便可得出未知电缆线束连接关系,省去手工输入接线关系的不便和繁琐工序,判断连接关系是否正确,是否有短路、断路、误配线等质量隐患。
本方案中,线束测试仪主机选用高性能DSP和FPGA核心芯片,FPGA的工作频率由FPGA芯片以及设计决定系统时钟频率较高,CPLD内部采用固定长度的金属线进行各逻辑块的互连,所以设计的逻辑电路具有时间可预测性,确保导通速度不低于0.5S/点,其中具体环节测试时间如下表所示。
线束测试仪内部和线间电阻误差。Kelvin电桥测试法原理图
两线制测电阻会引入线上电阻,如图所示:
四线制测电阻电压表的电流保持在最低限度,避免了导线的电阻所引起的误差,提高电阻测量精度,如图所示:
Aigtek安泰电子研究的ATX-3000线束测试仪,采用计算机辅助测试技术,将控制系统、人机交互模块、测试功能电路和继电器阵列集成在一起,自动化程度比较高,一定程度上提高了测试精度和效率。能够实现对整机电缆的短路、断路、绝缘和耐压故障进行检测以及对二极管、继电器、开关等电子元器件的可靠性进行测试。系统的测量控制单元采取模块化设计,系统的每个分布式开关单元有多达4096 点的测试容量,测试速度快;系统测试容量大,且扩展方便。
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