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产品测试过程中,电阻阻值变大失效的原因分析

菜鸟
2022-07-25 13:29:07     打赏
1.案例背景

某产品测试过程中发生功能不良,初步分析不良是因为电阻阻值变大导致。

注:电阻阻值标称值为1KΩ,实际达到几十或几百KΩ。

2.分析过程2.1 针对原始失效电阻的分析电阻失效分析之阻值变大导致不良

电阻#1

电阻失效分析之阻值变大导致不良

电阻#2

2.1.1 万用表检测电阻失效分析之阻值变大导致不良

34.22 KΩ 电阻#1

电阻失效分析之阻值变大导致不良

1.693KΩ 电阻#2

失效品金属膜面均有损伤,且阻值均变大失效。

2.1.2 X-Ray检测电阻失效分析之阻值变大导致不良

电阻#1

电阻失效分析之阻值变大导致不良

电阻#2

失效品电阻膜中间位置有扩散性损伤,其中电阻#1有明显的烧损损伤特征,即中心扩散,类似圆形区域。

2.1.3电阻#2切片分析电阻失效分析之阻值变大导致不良


电阻失效分析之阻值变大导致不良


电阻失效分析之阻值变大导致不良


通过对电阻#2进行切片断面分析,发现在电阻膜中间位置有明显的缺损损伤,其他位置电阻膜状态良好。

2.1.4 电阻#1 开封分析电阻失效分析之阻值变大导致不良


电阻失效分析之阻值变大导致不良


电阻失效分析之阻值变大导致不良


通过对电阻#1进行开封分析,发现电阻膜层有明显的烧损状态。

2.2针对失效复现电阻的分析电阻失效分析之阻值变大导致不良

电阻#3

电阻失效分析之阻值变大导致不良

电阻#4

2.2.1电压阶跃性测试电阻失效分析之阻值变大导致不良


通过电阻失效复现,存在电阻EOS击穿的可能性。当有过电流作用于电阻时,验证出电阻阻值变大失效现象。

2.2.2 X-Ray检测电阻失效分析之阻值变大导致不良


电阻失效分析之阻值变大导致不良


复现验证发现,复现品与原始失效样品相比,外观及X-Ray检测的结果基本一致,均在电阻膜位置发生了部分缺损。

2.2.3 电阻#3 切片分析电阻失效分析之阻值变大导致不良


电阻失效分析之阻值变大导致不良


电阻#3失效点状态VS电阻#1失效点状态电阻失效分析之阻值变大导致不良


电阻失效分析之阻值变大导致不良


对复现品进行切片分析,其损伤状态与电阻#2切片状态一致,损伤界面特征相同。

2.2.4 电阻#4 开封分析电阻失效分析之阻值变大导致不良


电阻失效分析之阻值变大导致不良


对电阻#4进行开封分析,电阻膜层有明显的烧损状态。

3.分析结果

综合以上分析,推断电阻阻值变大失效的原因:

在产品测试过程中,电阻受到EOS冲击,过流的可能性较大,电阻膜烧损导致失效。

3.1不良解析

3.1.1通过X-Ray及开封分析,可以看到电阻膜层有明显的烧损,其特征呈现部分烧断、中心扩散的特点。

3.1.2通过失效电阻的切片断面分析,电阻膜失效点的金属膜完全损伤,呈断开状态。

如下图所示:

电阻失效分析之阻值变大导致不良


3.1.3通过电阻EOS的失效验证,验证复现失效品,电阻阻值变大。通过X-RAY分析,其电阻膜损伤状态与失效原始样品一致。分别对其进行的切片及开封分析,失效特征与原始失效样品基本一致。

电阻失效分析之阻值变大导致不良


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关键词: 产品     电阻     测试     失效     原因分析     阻值    

专家
2022-07-25 13:39:28     打赏
2楼

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