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用阿贝判据研究显微系统的分辨率

cherryj
工程师
2022-09-20 12:14:41     打赏
摘要
 

显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。

image.png

1. 案例

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在VirtualLab Fusion中构建系统
 

1. 系统构建模块

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2. 组件连接器

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几何光学仿真

 以光线追迹
 

1. 结果：光线追迹

image.png

快速物理光学仿真
 以场追迹
 

1. NA=1.4时的光栅成像 

image.png

2.  NA=0.75时的光栅成像 

image.png

3. NA=0.5时的光栅成像 


image.png

文件信息

image.png了解更多
-       Debye-Wolf Integral Calculator
-       Analyzing High-NA Objective Lens
-       Resolution Investigation for Microscope Objective Lenses by RayleighCriterion




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未来的我
工程师
2022-09-20 12:22:31     打赏
2楼

感谢楼主分享


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水方
工程师
2022-09-20 12:25:41     打赏
3楼

学习到了


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大华K
工程师
2022-09-20 13:02:08     打赏
4楼

感谢分享


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