网站首页
这些小活动你都参加了吗？快来围观一下吧！>>
电子产品世界 » 论坛首页 » 综合技术 » 测试测量 » 马赫泽德干涉仪

共6条 1/1 1 跳转至页

马赫泽德干涉仪

cherryj
工程师
2022-11-15 17:36:00     打赏
摘要

 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 
 建模任务

 由于组件倾斜引起的干涉条纹

 由于偏移倾斜引起的干涉条纹
 文件信息

 更多阅读
- Laser Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration
- Fizeau Interferometer for Optical Testing


回复
收藏
0


未来的我
工程师
2022-11-15 18:29:58     打赏
2楼

学习一下 谢谢楼主分享


评论
水方
工程师
2022-11-15 18:35:52     打赏
3楼

感谢楼主分享 很实用的


评论
大华K
工程师
2022-11-15 18:57:30     打赏
4楼

谢谢楼主的分享 挺不错的


评论
丘球
工程师
2022-11-15 19:12:58     打赏
5楼

感谢楼主分享


评论
Hope2022
专家
2022-11-15 20:01:51     打赏
6楼

不可能


评论
共6条 1/1 1 跳转至页

回复

匿名不能发帖！请先 [ 登陆 注册 ]