SPI是平时使用最高的一个高速串行外设,尤其是驱动SPI外设接口的LCD显示屏上。那么问题来了,如果硬件SPI操作时SCLK和MOSI同时跳变的话,从机可能在边沿采样的时候出现异常。
发个帖子记录一下。后续需要使用示波器来验证一下!
这个你是怎么发现的?用示波器吗?还是逻辑分析仪?
如果是在第二个脉冲沿采集数据的话,就不是问题。是不是和SPI的设置有关?
可以通过设置,是可以改SPI外设的参数的,比如极性、第几个脉冲沿采集、标准数据宽度等。我看过一有官方例程,SPI之间的全双工通讯,使用的就是第二个脉冲沿采集数据。