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msp430,adc12 讨论msp430的adc12

问
各位:
我在使用MSP430的adc12的参考电平时碰到了一个问题。采用内部的参考电平和采用外部的参考电平,采集出的数据明显的不同,尤其是使用外部参考电平时当采集到参考电平一半的数据时,会出现死区。有谁碰到过这样的问题呀,帮忙一下了 答 1: 参考电平不一样,采出的原始数据肯定是不一样的了,实际电压值还需自己换算,换算之后应该是一样的了
第二个问题我也不太明白了,还是请高手解释一样.
另外,我也问个问题.我的两路数据采集,其中一路很稳定,跳动一两个字,但是另一路跳动就很大了,都有几十个,不知怎么回事了.都是一样处理的了 答 2: 我也遇到类似问题,要处理8个通道,总有两个效果不太好 答 3:
我的处理方法是平均20次,相对稳定多了。还有我的问题已经解决,就是使用外部参考电压时,参看电压要加运放电路驱动。
答 4:
我再想请教你们一个问题:你们用很多通道同时进行采集,到底结果怎么样?有通道不稳定,是最后的通道吗?我使用的是多通道循环采集的方式。
答 5:
对了,使用430的时候,延时时间的长短是怎么计算的,我怎么都搞不懂?帮忙了,谢谢
答 6:
如果你使用外部参考电压时加的运放是做电压跟随的话,只能说明你的外部参考电压基准驱动能力不够或者输出阻抗太高。
内部基准并不是标准的2.5V或者1.5V,需要在使用的时候校准,然后根据实际其实际电压来计算被采集的信号的值。 答 7: 正确!加10分。 答 8: 我的处理方法是:1 是将多余的通道都接上,采集后排序取中间的或中间的几个相加再平均,适用于变化较大的输入信号。2 是适用于比较平稳的输入信号,可4次、8次、16次、32次、64次循环存储平均。这样比较稳定多了。 答 9: GOOD! 答 10: If the dithering amplitude is incorrectly set, a large number of MCUs will still give good accuracy. However, a percentage will not. If this is the problem you have, then
adjusting the dithering level should have a big effect on the error. For example changing the resistor values which set the dithering level reduced their failure rate . 答 11: 版主请你说话用中文好吗 答 12: 引用: 答 13: 引用: 答 14: 引用:
我在使用MSP430的adc12的参考电平时碰到了一个问题。采用内部的参考电平和采用外部的参考电平,采集出的数据明显的不同,尤其是使用外部参考电平时当采集到参考电平一半的数据时,会出现死区。有谁碰到过这样的问题呀,帮忙一下了 答 1: 参考电平不一样,采出的原始数据肯定是不一样的了,实际电压值还需自己换算,换算之后应该是一样的了
第二个问题我也不太明白了,还是请高手解释一样.
另外,我也问个问题.我的两路数据采集,其中一路很稳定,跳动一两个字,但是另一路跳动就很大了,都有几十个,不知怎么回事了.都是一样处理的了 答 2: 我也遇到类似问题,要处理8个通道,总有两个效果不太好 答 3:





内部基准并不是标准的2.5V或者1.5V,需要在使用的时候校准,然后根据实际其实际电压来计算被采集的信号的值。 答 7: 正确!加10分。 答 8: 我的处理方法是:1 是将多余的通道都接上,采集后排序取中间的或中间的几个相加再平均,适用于变化较大的输入信号。2 是适用于比较平稳的输入信号,可4次、8次、16次、32次、64次循环存储平均。这样比较稳定多了。 答 9: GOOD! 答 10: If the dithering amplitude is incorrectly set, a large number of MCUs will still give good accuracy. However, a percentage will not. If this is the problem you have, then
adjusting the dithering level should have a big effect on the error. For example changing the resistor values which set the dithering level reduced their failure rate . 答 11: 版主请你说话用中文好吗 答 12: 引用: 答 13: 引用: 答 14: 引用:
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