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院士
2002-08-05 21:43:00    评分
11楼
好消息,上周五将所有邮件发了一遍,今天早上收到回复邮件200封,刚刚处理完。真没想到有那么多朋友想参与。 顺便说一下,由于邮件回复的太多,我不能给大家回信了,请见谅!

院士
2002-08-06 00:12:00    评分
12楼
10M,羡慕吧

院士
2002-08-06 01:09:00    评分
13楼
报名人数达到270人!

院士
2002-08-06 17:27:00    评分
14楼
收到

院士
2002-08-06 17:30:00    评分
15楼
《电子产品世界》杂志社网站将于9月中旬与IDT公司联合举办“T1/E1接口保护电路设计在线研讨会”,感兴趣的网友请将您的通讯地址及Email发送至jackwang@edw.com.cn,我们将及时通知您有关信息。 凡参与讨论的网友均将获得精美礼品,并有机会获得特别礼物! 内容简介: 随着科学技术的日新月异,集成电路的集成度越来越高,电路越来越复杂,工作电压越来越低,对环境稳定性的要求也越高。但集成电路对过压和过流所造成的危害反而更为敏感。一方面由于电子设备内部结构高度集成化,从而造成设备耐压、耐过电流的水平下降,对过压和过流的承受能力下降,另一方面由于信号来源路径增多,系统较以前更容易遭受过压和过流侵入。浪涌电压可以从电源线或信号线等途径窜入电信设备,由于电信业的竞争日益增加,电信服务供应商对电信设备供应商提供的高可靠性网络设备的需要也相对提高。过压和过流的危害通常是由:雷击(雷电灾害被国际电工委员会(IEC)称为"电子化时代的一大公害") ,临近电线引起的感应 ,直接与电源线碰接或用户设备故障所导致。这些危害可能危及电信网络设备,用户和维护人员。因此电信设备供应商已转向于增加设备的抗过压和过流的能力来满足降低电信系统维护成本和提高电信系统可靠性的要求。 本次研讨会将讨论T1/E1线路接口集成电路用在电信网络设备中的典型保护方法。 参考资料请见 http://www.edw.com.cn/xz/detail.jsp?id=165 具体请关注《电子产品世界》论坛:http://bbs.edw.com.cn [em27]

院士
2002-08-13 16:56:00    评分
16楼
截至8月12日,报名参加IDT在线研讨会的网友数量达到370人,真实个好消息!

工程师
2002-08-19 17:27:00    评分
17楼
能!直到研讨会开始都能

院士
2002-08-29 00:00:00    评分
18楼
好消息,在线研讨会9月10日下午14:00-17:00准时开始,我们会在发正式通知。

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