在实际应用中ADC采样精度性能指标受多因素影响，要达到ADC的高性能，需要妥善处理硬件和软件。硬件方面
1.稳定的参考电压源，推荐选用电池或者高性能的稳压源给VDDA供电；2.VDDA引脚并接4.7uF和100nF陶瓷电容到GND，最大程度消除噪声干扰；3.如条件许可，应将信号源和参考电压源以屏蔽线接入到ADC输入通道和VDDA引脚；4.靠近芯片的ADC输入通道引脚附近增加100nF陶瓷电容到GND，消除空间的辐射干扰。软件方面
1.选择VDDA为参考电压源；2.ADC采样率尽量低，ADC工作时钟可采用128分频，采样周期选择10个；3.在采样转换时，除了ADC模块外 ，其它外设都不要打开，采样数据先缓存在RAM中，采样到一定量的数据后再初始化串口，将数据通过串口发送出来；4.在启动ADC转换后，MCU要进入Sleep休眠状态（MCU停止运行），最大程度地减小噪声。5.ADC转换完成后，转换完成中断唤醒MCU，初始化串口，将ADC转换结果输出。关键代码设计如下：//配置ADC
__RCC_ADC_CLK_ENABLE(); //ADC初始化ADC_StructInit(&ADC_InitStructure);//ADC工作时钟配置ADC_InitStructure.ADC_ClkDiv = ADC_Clk_Div128; //269Hz
ADC_WdtInit(&ADC_WdtStructure);
//配置单通道转换模式ADC_SingleChStructure.ADC_DiscardEn= ADC_DiscardNull;ADC_SingleChStructure.ADC_Chmux= ADC_ExInputCH0;//选择ADC转换通道，AIN1:PA00ADC_SingleChStructure.ADC_InitStruct= ADC_InitStructure;ADC_SingleChStructure.ADC_WdtStruct= ADC_WdtStructure;
ADC_SingleChOneModeCfg(&ADC_SingleChStructure); //初始化单通道单次采样ADC_ITConfig(ADC_IT_EOC, ENABLE); //使能ADC的EOC中断
ADC_EnableIrq(ADC_INT_PRIORITY);
ADC_ClearITPendingAll();
ADC_Enable(); //ADC模块使能
SysTickDelay(2); //延时2S
CW_ADC->START = 0X01; //启动ADC开始转换
SCB->SCR = 0; // MCU进入Sleep状态__WFI();
本次测试中，配置系统时钟为1M，ADC采样时钟分频比设置为128，采样时钟10个周期，计算ADC的采样率为=1000000/128/29=269Hz。
使用精密稳压电源（GPP-2323）给VDD和VDDA供电，稳压源设置输出电压为3.30V，用普通测试线双绞后接入（如有测试条件建议用同轴线接入），实测引脚电压为3.299V；待测信号源用1节干电池提供，用同轴线接入，实测引脚电压为1.615V。
测试10次，每次测试100个数据，实测结果如下：
由测试结果可以看到，10次共1000次采样，最大采样值为2006，最小采样值为2003，采样值变化仅仅4LSB，集中度非常高。如下图所示：
下面分析一下实际的测试误差。
采样值2006对应：2006*3.299/4095=1.616V
采样值2003对应：2003*3.299/4095=1.614V
和信号源电压1.615V相比，最大相差正负1mV。
可见CW32F030芯片的ADC性能非常好，能满足常规mV级别应用。武汉芯源官方网站已经发布了CW32F030系列MCU的数据手册、用户手册、应用笔记等技术文档，以及配套的StartKit开发板资料、底层外设驱动软件库和应用例程等SDK资料，欢迎下载评测。
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