EEPW论坛

　　贴片光耦是一种以光为介质传输电信号的器件。它的内部由发光二极管和光敏三极管封装在一起。

　　贴片光耦的应用领域包括电路隔离、直流电机调速、照明系统、PWM应用、交流电源检测、磁簧继电器驱动、开关电源反馈、电话铃声检测、逻辑接地隔离、逻辑耦合和高频噪声抑制。

　　下面由弗瑞鑫小编向大家介绍贴片光耦的优点和如何延长光耦使用寿命!

　　一、 贴片光耦的优点

　　1.输入和输出端子是绝缘的，因此耐压非常高，通常可以超过1KV。

　　2.对于单向传输，输入端只能影响输出端，而输出端不能影响输入端。

　　3.贴片光耦器件的共模抑制比很大，可以很好地抑制干扰，消除噪声。

　　4.无触点，使用寿命长，体积小，耐冲击。

　　5.响应速度快，时间常数通常在毫秒或微秒量级。

　　二、 如何贴片光耦延长寿命

　　1、哪些参数会影响贴片光耦的寿命

　　电路设计的主要考虑因素之一是预期寿命，这取决于产品本身和其中包含的单个组件的寿命。在考虑组件时，某些组件可能会完全失效，或者随着时间的推移，其性能可能会下降。对于贴片光耦，CTR性能将随时间的延长而降低，具体取决于工作条件。

　　贴片光耦的使用寿命可能超过几十年，因此需要使用更严格的条件来加速压力测试。

　　对于可靠性测试而言，缩短压力测试时间并预测正常使用条件下的最终寿命是非常有意义的。当贴片光耦在更高的温度和电流下测试时，器件的老化过程比正常工作条件下的老化过程快得多。

　　CTR的老化速率取决于操作期间的正向电流IF和环境温度TA。应注意，通过降低LED的工作温度和驱动正向电流，可以减缓CTR的老化。

　　图1：正向电流与预期CTR老化率和工作时间之间的关系。现场工作参数：100%占空比、80℃环境温度和正向电流如图所示。压力测试参数：1000小时测试、110℃测试温度、30 mA正向电流。

　　图2：温度与预期CTR老化率和工作时间之间的关系。现场工作参数：100%占空比，5 mA正向电流，环境温度如图所示。压力测试参数：1000小时测试，110℃测试温度，30 mA正向电流。

　　2、如何延长贴片光耦的使用寿命

　　根据以上可靠性数据，我们建议采用以下方法延长贴片光耦的使用寿命：

　　1.减少贴片光耦有效工作时间

　　2.降低LED二极管的工作电流和功耗

　　3.避免LED出现峰值瞬态电流

　　4.调整LED的占空比以保持较低的平均电流