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这种情况经常重复出现，而且仍有更多的亚原子物质正朝着这个方向发展。当它们到达时会非常地分散，以至于可以单独地检测到在它们之中的任何一个。遗憾的是，进行这种检测的对象是您巧妙设计到产品中的半导体时，造成的结果被称为“单粒子翻转”（single event upset，SEU）。在某些情况下，它可能造成相当大的破坏。如果您的产品处于地球轨道或在太空中的其他地方快速移动，这一点尤其值得关注。下面，以使用MOSFET的推挽式逆变器为例。如果“off”侧MOSFET在本不应该开启的时候被错误地开启，其结果可能会导致驱动轨电压对接地近乎短路。类似这样的事件可能是灾难性的。如下图所示，这张草图显示的就是这样的一种逆变器，但它具有保护功能，能够避免因单粒子翻转而造成的灾难。

（每个标示的“X”表示MOSFET正经历一次单粒子翻转）无论哪一个MOSFET因单粒子翻转而导通，其余三个开关位置都将保持开关状态，直到受到冲击的MOSFET开关位置恢复正常。在此电路中，单粒子翻转将会暂时干扰变压器驱动平衡，但并不至于对+Vcc轨造成潜在的灾难性下拉。因为，受影响的MOSFET的配套MOSFET可以维持预期的开关状态。