ANDK-QFN52-0.4 老化座 芯片测试座 编程座 IC549-0524-015-G  KZT-凯智通

QFN52-0.4翻盖弹片老化座

 产品简介

A、产品用途:编程座、测试座，对QFN52的IC芯片进行老化、测试

B、适用封装:QFN52引脚间距0.4mm

C、测试座:QFN52-0.4

D、特点:采用U型顶针，接触更稳定

E、我司可提供规格书（布板图），PDF档\CAD

 规格尺寸

A、型号:QFN-52-0.4

B、引脚间距(mm):0.4

C、脚位:52

D、芯片尺寸:7*7mm