ANDK-QFN52-0.4 老化座 芯片测试座 编程座 IC549-0524-015-G KZT-凯智通
QFN52-0.4翻盖弹片老化座
产品简介
A、产品用途:编程座、测试座，对QFN52的IC芯片进行老化、测试
B、适用封装:QFN52引脚间距0.4mm
C、测试座:QFN52-0.4
D、特点:采用U型顶针，接触更稳定
E、我司可提供规格书（布板图），PDF档\CAD
规格尺寸
A、型号:QFN-52-0.4
B、引脚间距(mm):0.4
C、脚位:52
D、芯片尺寸:7*7mm
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