01｜检测需求：扫描薄膜圆圈的高度差
02｜检测方式
客户要求扫描薄膜圆圈的高度差，根据观察样品我们选择立仪科技D40A30镜头搭配H系列控制器进行测量
03｜光谱共焦测量结果
薄膜圆圈的高度差轮廓
04｜光谱共焦侧头
D40A30侧头相关参数
05｜H系列控制器
H系列控制器相关参数
 我要赚赏金打赏帖 |
|
|---|---|
| 【S32K3XX】LPSPI参数配置说明被打赏￥21元 | |
| 在WT9932C61-TINY上实现超声波测距被打赏￥22元 | |
| 基于WT9932C61-TINY的环境构建及OLED屏驱动测试被打赏￥20元 | |
| 【S32K3XX】Core-to-Core 中断使用被打赏￥21元 | |
| 「AI编程记录--含源码」用一晚上的时间写一个esp32的示波器被打赏￥19元 | |
| STM32C0116DK开发探索记（3）被打赏￥30元 | |
| STM32C0116DK开发探索记（2）被打赏￥24元 | |
| STM32C0116DK开发探索记（1）被打赏￥29元 | |
| 谨防极海G32M3101电机评估板易跌落的陷阱被打赏￥24元 | |
| 【全网首拆】M5STACK ATOM系列开发板拆解 / AtomS3R-CAM摄像头更换方法(提高10倍像素)被打赏￥26元 | |
STM32
MCU
通讯及无线技术
物联网技术
电子DIY
板卡试用
基础知识
软件与操作系统
我爱生活
小e食堂
