01｜检测需求：扫描薄膜圆圈的高度差
02｜检测方式
客户要求扫描薄膜圆圈的高度差，根据观察样品我们选择立仪科技D40A30镜头搭配H系列控制器进行测量
03｜光谱共焦测量结果
薄膜圆圈的高度差轮廓
04｜光谱共焦侧头
D40A30侧头相关参数
05｜H系列控制器
H系列控制器相关参数
 我要赚赏金打赏帖 |
|
|---|---|
| STM32C0116DK开发探索记（3）被打赏￥30元 | |
| STM32C0116DK开发探索记（2）被打赏￥24元 | |
| STM32C0116DK开发探索记（1）被打赏￥29元 | |
| 谨防极海G32M3101电机评估板易跌落的陷阱被打赏￥24元 | |
| 【全网首拆】M5STACK ATOM系列开发板拆解 / AtomS3R-CAM摄像头更换方法(提高10倍像素)被打赏￥26元 | |
| 基于MCP23S17的输入输出功能模块控制被打赏￥20元 | |
| 【S32K3XX】SPD 软件包使用Link文件修改被打赏￥22元 | |
| Switch-Case局部变量定义问题被打赏￥23元 | |
| 基于米尔TIAM62L开发板的串口通信及应用被打赏￥20元 | |
| PCF8574功能模块及其使用被打赏￥20元 | |
STM32
MCU
通讯及无线技术
物联网技术
电子DIY
板卡试用
基础知识
软件与操作系统
我爱生活
小e食堂
