厂家在进行阻抗控制的时候,经常会对层厚和线宽(对于差分线,线宽变了,线距也就变了),铜厚,进行调整,来达到设计要求。现在有个想法,为了让厂家在调整时改动较小,在设计PCB前进行阻抗仿真(SI9000),做到心里有底,按照厂家提供的设计参数来进行仿真,现在有个问题不是很明白,PCB的核心板层和填充层都是由半固化片生成的,核心板有固定厚度,而同样生成核心板的半固化片组合成填充层时,厚度和介电常数都有较大差别,比如,IT180A半固化片0106(0.06mm)+1080(0.073),生成的核心板的厚度是1.0mm,介电常数为4.25,而生成填充层的厚度应该就是相加吧0.133mm,介电常数为平均值(3.9+3.95)/2=3.925,由于填充层被压制时厚度不定,所以仿真时结果差别比较大,我想问一下这个压制的公差一般在什么范围啊?有了解的朋友请赐教。或者我在设计PCB的时候要注意什么可以避免这个公差?
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