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问 用示波器测试到AD测试点的波形没有问题。但AD转换后数据不正确，从小到大一直升高，实际波形并不是这样。
现在用的是2214的内部flash调试。而该主程序（完全相同）在LPC2210的外部ram中调试，则数据没有任何问题。请高手指教，是不是两种芯片的ad转换有不同的地方？ 答 1: 请把程序贴出来帮助您分析 答 2: 程序部分uint32 ADC_Data;                              
uint16  ccddata[551];

这是初始化部分。
ADCR=(1<<2)|                
  ((Fpclk/4500000-1)<<8)|      
   (0<<16)|                 
   (0<<17)|      
   (1<<21)|         
   (0<<22)|         
   (0<<24)|          
   (0<<27);  

这是中断服务中取数据的程序：

for(i=0;i<=550;i++)

     {
      
        ADCR=ADCR|(1<<24);
      
       while((ADDR&0x80000000)==0);
        
         
        
        ADC_Data=ADDR;
        
              
        
        ccddata[i]=(ADC_Data>>6)&0x3FF;
        

      }              

取出的数据从小到大上升状，与实际曲线情况不符，实际的数据没有这种斜度。而在2100中则没有这种问题。不知道为何。谢谢！！

答 3: 问题已解决这个程序本来在2210的exram下调试没问题的。但因为2214的内部flash调试速度很快，所以就出现了不同。我在ad转换中加入了延时程序就没问题了。
不过不知道为什么速度会差这么多。
还有也希望有谁有好的延时程序能分享一下，不胜感激,谢谢！！