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一种方法是使用风河的仿真器probe或者ice，里面有一个diagnostic的功能，能够测试地址线和数据线以及存储器。

另一种方法是自己写程序，常用的方法有以下几种，对地址测试和数据测试都适用：

1、走步0。依次写0xFFFFFFFE,0xFFFFFFFD,0xFFFFFFFB,0xFFFFFFF7,0xFFFFFFEF...0x7FFFFFFF,这样一组数字，如果是数据线测试，就向固定一个地址写入这些数字再读出来，写一个同步一下就读回来，如果数据线粘连读回来的会与原来的不同；如果是地址线测试，向这组数字表示的地址（注意不要超过存储器的上限）里面写入累加的一个数字，比如1、2、3。。。，全部写完后再读回来，如果地址线粘连会读到重复的数字，比如读到两个2，但没有读到1。

2、走步1。方法同上，只是数字的值变成了0、4、8、0x10、0x20。。。等。

3、写全F。前面两种方法主要检测的是焊接过程中的地址或数据线粘连，如果是存储器本身出错，比如有一个bit固定表现为0，可以使用写全F的方法，就是把所有的存储器空间写满F，然后读出来比较。

4、写全0。同上。

5、写0x55。原理与3、4相同，测试相邻晶元间是否有必然联系，比如bit1是0的时候bit2根据芯片内部不应该有的某种反应也变为0，这是我们不希望看到的。

6、写0xAA。同上。

7、写随机数。先在另外一个存储器上申请与待测存储器相同大小的空间，写满随机数，然后复制到待测存储器里，再读出来比较。

上面是常用的几种方法。华为的中试部门将这几种方法加一些辅助的其他测试方法总结成36步法、9步法、5步法、3步法等，其中1、2两种走步0、1都是必备的。因为晶片发生错误的概率很小，错误大多数发生在焊接过程中。

如果在系统启动的时候作自检，不能直接使用上面的方法，因为这些方法都是破坏性的，不能保全存储器里面的数据，只能用于出厂测试。一般自检时，内存检测在bios里面进行，在完成搬移之前，检查数据线和地址线，最多只需要操作128次，速度很快。flash检测，简单一点，可以把flash内容全部读到内存，检测完再拷贝回去，如果怕掉电丢失内容，需要划一个block作保存数据的中转站。