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3 端纳米线晶体管 (图片由美国德州大学达拉斯分校提供)	吉时利 6430 型亚 fA 程控源表® Measures currents with 400aA (400X10-18A) Sensitivity

纳米级材料和器件的制造通常始于化学、生物学或半导体器件 / 微电子实验室。纳米级材料和器件的电气测量不仅揭示了电特性，还揭示了纳米微粒的状态密度等一般特性。这些基本特性可用于预测和控制物理特性，例如抗拉强度、颜色以及电导性和导热性。然而，进行有意义的测量需要高灵敏度的仪器以及复杂的探头技术。专用于纳米技术研究的仪器不断增加，但是用户必须了解所需的测量类型，以及哪种测试系统特点将增加速度和准确度。

对于实验室中研究的许多纳米级材料和器件，最常见的电气特性分析方法是电流与电压 (I-V) 测试。电流-电压特性是显示电子器件上的直流电流与其两端的直流电压之间关系的一幅图。电气工程师使用这些图确定器件的基本参数并对电子电路的行为建模。通常，工程师将特性分析图称为 I-V曲线，从而指用于电流和电压的标准符号。典型的碳纳米管MOSFET 的漏电压与漏电流 I-V 曲线看起来像左边的曲线。