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泄漏电流是由测量电路和附近的电压源之间的寄生电阻通路产生的。这种电流能够大大降低弱电流测量的准确度。为了降低泄漏电流，应当使用高质量的绝缘材料，降低测试环境中的湿度，以及采用保护技术。保护技术还能降低测量电路中分流电容的影响。

在组建测试电路时，使用高质量的绝缘材料是降低泄漏电流的一种方法。特富龙、聚乙烯和蓝宝石是高质量绝缘材料的例子，但要避免使用酚醛塑料和尼龙等材料。

湿度也能影响弱电流测量。不同类型的绝缘材料会从空气中吸收不同量的水分，所以最好选择水蒸气不容易在其上形成连续膜的绝缘材料。有的时候，由于被测的材料容易吸水，而无法避免这种情况的话，最好在环境控制室中来进行测量工作。在某些情况下，绝缘体上可能会有离子污染物，并会产生虚假的电流，在高湿度的环境下尤其明显。

保护技术是降低泄漏电流的非常有效的方法。保护是强制将电路中的一个低阻节点与高阻输入端节点近似等电位的一种技术。静电计安培计和皮安计的保护技术可以用以下的例子来很好的说明。

静电计安培计和皮安计的保护端为LO输入端。保护可以用来把安培计的高阻输入引线和由电压源引起的泄漏电流隔离开来。图2-11和 2-12说明了这种保护的例子。

图2-11说明保护技术应用于测量电离室的离子电流。无保护的电离室及其相应的等效电路示于图2-11a。等效电路表明，全部的偏置电压都出现在绝缘电阻（RL）的两端。所以，泄漏电流（IL）将加到被测离子电流中（IM = IC+IL）。泄漏电阻是由电离室和同轴电缆的绝缘体引起的。

在图2-11b中，电离室上加了一个金属保护环。这个保护电路把泄漏电阻分成两部分。RL1上的电压为皮安计的输入端压降，通常小于 1mV，所以产生的电流是相当小的。全部的偏置电压出现在RL2上。泄漏电流将在此回路中流动，但是不影响测量。

保护对避免由测试夹具产生的泄漏电流也是必要的。图2-12示出了测试夹具上由两个绝缘子支撑的高阻器（RDUT）。

图2-12a是无保护的电路。流过绝缘子支脚（stand-off insulator）的泄漏电流（IL）将加到被测电流（IM ）中 。

如图2-12b所示，这个电路将皮安计的LO端连到金属安装板，实现了保护作用。这就使得右边绝缘子的底部与其顶部几乎处于相同的电位。其电位差等于皮安计的输入端压降。该输入端压降很小，小于 200mV。绝缘子的顶部和底部几乎为同电位，所以没有很大的电流流过。几乎所有来自被测器件的电流都按我们希望的那样流过安培计。