【应用笔记】Altera器件的IEEE1149.1 JTAG边界扫描测试(IEEE 1149.1 JTAG Boundary-Scan Testing in Altera Devices)
当印刷电路板(PCB)变得越来越复杂的时候,全面彻底测试的需求也变得越来越重要呀。
As printed circuit boards (PCBs) become more complex, the need for
thorough testing becomes increasingly important. Advances in surfacemount
packaging and PCB manufacturing have resulted in smaller
boards, making traditional test methods—external test probes and “bedof-
nails” test fixtures—harder to implement. As a result, cost savings from
PCB space reductions are sometimes offset by cost increases in traditional
testing methods.an039.pdf
共1条
1/1 1 跳转至页
【应用笔记】Altera器件的IEEE1149.1 JTAG边界扫描测试(IEEE 1149.1 JTAG Boundary-Scan Testing in A
共1条
1/1 1 跳转至页
回复
打赏帖 | |
---|---|
汽车电子中巡航控制系统的使用被打赏10分 | |
【我踩过的那些坑】工作那些年踩过的记忆深刻的坑被打赏100分 | |
分享汽车电子中巡航控制系统知识被打赏10分 | |
分享安全气囊系统的检修注意事项被打赏10分 | |
分享电子控制安全气囊计算机知识点被打赏10分 | |
【分享开发笔记,赚取电动螺丝刀】【OZONE】使用方法总结被打赏20分 | |
【分享开发笔记,赚取电动螺丝刀】【S32K314】芯片启动流程分析被打赏40分 | |
【分享开发笔记,赚取电动螺丝刀】【S32K146】S32DS RTD 驱动环境搭建被打赏12分 | |
【分享开发笔记,赚取电动螺丝刀】【IAR】libc标注库time相关库函数使用被打赏23分 | |
LP‑MSPM0L1306开发版试用结果被打赏10分 |