"本期研讨会概述了正确测试当今高功率高亮度LED所需的电子设备。此研讨会介绍了大晶粒LED和LED模块使下列测试设备需求增加的背景:具有更大电流容量、更大输出波形灵活性以及实现这些功能的正确电缆连接。还介绍了LED的晶匣管效应。本期研讨会适于高亮度LED开发和生产的研究人员、测试工程师和测试工程管理人员参加。
参加研讨会的网友将了解:
为什么测试大晶粒LED和LED模块需要更高功率和脉冲宽度调制
测试高功率LED需要正确连接电缆
什么是晶匣管效应以及如何用现代测试设备轻松检测该效应"
请下载:满足高功率、高亮度LED电气测量要求的研讨会中文讲义.pdf
有奖活动 | |
---|---|
【EEPW电子工程师创研计划】技术变现通道已开启~ | |
发原创文章 【每月瓜分千元赏金 凭实力攒钱买好礼~】 | |
【EEPW在线】E起听工程师的声音! | |
“我踩过的那些坑”主题活动——第001期 | |
高校联络员开始招募啦!有惊喜!! | |
【工程师专属福利】每天30秒,积分轻松拿!EEPW宠粉打卡计划启动! | |
送您一块开发板,2025年“我要开发板活动”又开始了! | |
打赏了!打赏了!打赏了! |
打赏帖 | |
---|---|
汽车+汽车电子电阻解释与分析被打赏5分 | |
STM32F103的I2C驱动OLED动态显示被打赏30分 | |
分享汽车通信和多媒体总线结构被打赏20分 | |
【我踩过的那些坑】结构堵孔导致的喇叭无声问题被打赏50分 | |
NUCLEO-U083RC学习历程38+串口通过队列的方式输出两个字符串被打赏20分 | |
【我踩过的那些坑】分享一下调试一款AD芯片的遇到的“坑”被打赏50分 | |
电流检测模块MAX4080S被打赏10分 | |
【我踩过的那些坑】calloc和malloc错误使用导致跑飞问题排查被打赏50分 | |
分享电控悬架的结构与工作原理(一)被打赏20分 | |
多组DCTODC电源方案被打赏50分 |