首届仪器仪表器件选型技术研讨会
时间：2013年6月
地点：北京
主题：助力“中国创造”的高性能测试仪器
主要议题：
1 模拟前端在测试仪器设计中的重要意义与选型特殊需求
2 ADC的性能对测试仪器信号捕获的价值及选型指导
3 如何选择最适合的放大器及相关信号处理系统
4 FPGA在测试仪器设计中的优势与应用实例
5 测试仪器用操作系统应用指南
6 信号分析与信号处理技术在不同测试仪器中的应用
报名地址：http://www.eepw.com.cn/event/action/instrument2013/
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