通过微探针连接到芯片并引出所需信号，用于电学特性测试
性能参数
放大倍数50X，100X，200X，500X
8个探针座
带屏蔽箱
应用范围
微小连接点信号引出，用于失效分析失效确认，FIB电路修改后电学特性确认等。
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