网站首页
这些小活动你都参加了吗？快来围观一下吧！>>
电子产品世界 » 论坛首页 » 综合技术 » 基础知识 » 通过瑞利判据对显微镜物镜进行分辨率研究

共1条 1/1 1 跳转至页

通过瑞利判据对显微镜物镜进行分辨率研究

Rosaaa
助工
2024-10-25 13:57:56     打赏
摘要
 通常可以采用瑞利判据理论表征显微镜的分辨率，瑞利判据是1896年由第三代瑞利男爵约翰·威廉·斯特拉特(John William Strutt)提出的。该理论认为，当一个艾里图样的中心与另一个艾里图样的第一个最小值重叠时，就可以分辨它们。在这个例子中，我们根据瑞利的理论，检验不同数值孔径(NA)显微物镜的分辨率。
 

image.png

image.png

image.png

image.png

VirtualLab Fusion的工作流程
  从Zemax OpticStudio®导入透镜系统- 从Zemax导入光学系统 [用例]  分析实际透镜系统的成像性能- 分析高NA物镜聚焦 [用例]  使用Debye-Wolf积分作为参考- Debey-Wolf积分计算器 [用例] 

image.png

image.png

回复
收藏
0



关键词： 通过     瑞利     判据     显微镜     物镜     进行     分辨率     研究    

共1条 1/1 1 跳转至页

回复

匿名不能发帖！请先 [ 登陆 注册 ]