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前面测试的PCF8574T模块中有一个INT引出端，在测试的时候，虽然加入了输入输出的测试，但没有看到这个引出端有任何电平变化。为此专门查看了数据手册。根据手册中电路框图构成：

以及功能描述框图：

可以看到INT引出端子的信号变化和读写脉冲以及data to shift register三个信号有关。在读取模式下，

在输入模式下，当PCF8574的并行端口的某个输入信号端（任意哪个端口）有电平变化时，才会触发INT端。注意，这里说的是外部导致的电平信号变化，如果时候通过内部指令改变输入信号的，是无效的。因此我之前的测试程序是不可能触发产生INT信号。另外INT这个输出端子，在内部结构上是开漏结构，使用时需要加上上拉电阻才行。

上面说了，要在输入模式下，某个引脚发生电平变化时回触发INT变化，但PCF8574没有专用方向寄存器，其I/O的输入输出模式由写入操作隐式决定。当某个端口被写入“1”的时候，那么这个端口就算是进入输入模式。这些端口内部有弱上拉（100K电阻），因此写入“1”，端口呈现为高电平。而如果端口被写入为“0”，那么外部即施加高电平，也不会改变输入数据变成“1”。端口的驱动能力比较弱，

所以利用灌电流是可以直接驱动小型LED的（φ3或者φ5）。INT端的信号，必须在INT触发后进行一次读写操作，才能完成清除动作。

为了测试INT，需要修改程序，输出FF到端口，使所有端口呈现为输入模式，此时使用按钮在或者直接使用导线短路端子到地，如果正常的话，此时INT端输出“0”，外接上拉LED的话，就应该亮。

#include "Wire.h"
#define ADDR 0x20
void setup() {
  Serial.begin(115200);
  Wire.begin();
  Serial.printf("Write data=255 \n" );
  Wire.beginTransmission(ADDR);
  Wire.write(0xff);
  Wire.endTransmission();  
}
void loop() {
  Serial.printf("Read  data:%x \n" , Read_PCF8574());  //Read IO
  delay(5000);
}
uint8_t Read_PCF8574(void) {
  uint8_t data = 0;
  Wire.requestFrom(ADDR, 1);
  while (Wire.available()) {
    data = Wire.read();
  }
  return data;
}

测试时，等程序稳定后。使用导线短接某个端子到地，确实可以看到INT端子所在的上拉电阻连接的LED亮了。保持接地不变，等待5秒后，INT端的电平会由于读PCF8574T的读操作而被置位为“1”，INT连接的LED灭。此时之前端子保持接地的那个导线，断开与地的连接，，INT连接的LED再亮，证明了端口电平的变化，无论是从“0”变成“1”，还是从“1”变成“0”，都会触发INT输出端输出为“0”。